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────────Omniscan MX TOFD檢測 ──────────────────────

        TOFD是使用兩個探頭一發一收模式的檢測技術。TOFD 檢測和記錄從缺陷端部繞射的信號,用於缺 陷定性及其尺寸定量。TOFD數據在B-Scan為灰階顯示。TOFD 可提供大範圍覆蓋和與波幅無關的尺寸測 量,這符合ASME一2235規範。

       
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